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Validación del método para el análisis de cristalinidad y amorfos por difracción de rayos X en muestras sólidas

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Academic year: 2017

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Figura 1.1. Estructura de la sílice amorfa y su perfil de difracción de rayos X [10]
Figura 1.3. Ley de Bragg [7]
Figura 1.4. Partes de una onda electromagnética (1),  interferencias constructivas y destructivas (2) [7]
Figura 2.1 Difractómetro de Rayos X D2 Phaser
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Referencias

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