• No se han encontrado resultados

D. Experiencias y lecciones

D.1 Experiencias y lecciones en la formulación de proyectos

The  initial  development  and  application  of  EXAFS  have  been  impeded  by  a  great  deal  of  confusion about its correct theoretical description. The question arose as to whether a long‐range  order theory formulated in terms of Bloch waves [215] or a short‐range order theory in terms of  scattering from nearby atoms [216, 220] was more appropriate. With the advent of synchrotron X‐ ray  sources  in  the  1970s,  a  quantitative  comparison  between  theory  and  experiment  became  possible  for  the  first  time.  Since  then  it  is  generally  established  that  the  single‐electron  short‐ range‐order description is adequate in most cases to explain the theory of EXAFS, although both  approaches can be reconciled when appropriate broadening is introduced [213].  

Within  this  picture,  EXAFS  can  be  phenomenologically  described  by  the  so‐called  EXAFS  equation. Its derivation can be abundantly found in the literature [68, 204, 206]. Here we prefer to  focus on the physical meaning of its various components and how the equation is used to extract  structural information from the XAS spectrum. The EXAFS spectrum is defined phenomenologically  as the normalized, oscillatory part of the absorption coefficient above a given absorption edge, i.e.    Equation 2‐8 

where    is  the  smoothly  varying  atomic‐like  background  absorption  of  an  "embedded  atom"  (in  the  absence  of  neighboring  scatterers  but  incorporated  in  the  lattice  of  neighboring  potentials). In order to relate   to structural parameters, we need to make the transformation  from (absolute) E‐space into (relative) k‐space. The kinetic energy of the photoelectron is given by  the difference in energy E of the X‐ray photon and the energy E0 necessary to expel the electron  from its core level (the IP). By using [Equation 2‐2] and [Equation 2‐3] the electron wave vector is  expressed as 

2

Equation 2‐9

which can be used to transform   into   (from now on, the wave vector subscript referring  to  the  photoelectron  is  omitted).  The  latter  is  given  by  the  EXAFS  equation,  expressed  as  a  scattering path expansion generalized to include MS pathways [213]: 

| |

sin 2 2  

Equation 2‐10 

with  the  scattering  path  index,  the  number  of  equivalent  scattering  paths    ,  the  halfpath  distance    and the squared Debye‐Waller (DW) factor  . In the case of SS,   represents the  direct  interatomic  distance  between  absorber  and  scatterer.  In  addition,  | |   is  the complex backscattering amplitude for path  ,   is the central atom phase shift of the final  state,   is the energy‐dependent mean free path and   is the overall amplitude reduction  factor, which was added later to account for many‐body (shake‐up, shake‐off) effects [(§2.1.5)]. 

In principle, Equation (2‐10) contains all of the key elements that a correct theory must entail  and it provides a convenient parameterization that allows fitting the local atomic structure around  the  absorbing  atom  to  the  experimental  EXAFS  data  [(see  §2.2.4.1)].  The  relation  between  the  oscillatory fine structure and the interatomic distances is clearly reflected by the sin 2  term.  The finite lifetime of the excited state consisting of the photoelectron together with the core hole  where  it  came  from  is  captured  by  the  exponential  damping  term  exp(  2 .  The  strength of the reflected waves depends on the type and number of the neighboring atoms via the  backscattered amplitude | |. The phase factors   and   reflect the quantum‐mechanical  nature of the scattering process (the factor of 2 is due to the fact that the photoelectron encoun‐ ters the potential of the central atom twice). These phases account for the difference between the  measured and geometric interatomic distances, which are typically a few tenths of an   and must  be corrected for by using an experimental or theoretical reference [68]. Finally, the damping factor    is  partially  due  to  thermal  effects  causing  the  atoms  to  jiggle  around  their  equilibrium 

atomic positions with a root‐mean‐square deviation of  . Thus the contributions of these atoms to  the interference will not all be exactly in phase. Effects of static disorder are similar and they give  rise to an additional contribution to  . The Debye‐Waller damping term is most pronounced for  high  energies  making  it  essential  for  EXAFS,  but  its  energy  dependence  is  often  negligible  in  XANES.  In  the  case  of  a  simple  diatomic  vibration  and  scattering  along  the  interatomic  axis,  the  squared DW factor can be expressed as [221] 

8 coth 2  

Equation 2‐11 

where   is the reduced mass of the vibration, T is the temperature, and   is the frequency of  the vibration. As   increases with T, the fine structure tends to "melt" at high temperatures, con‐ fining the spectrum to lower regions of energy. 

2.2

 Experimental Methods: Synchrotron radiation experiments 

2.2.1 Steady‐state XAS setup 

Both methods of detection (transmission and fluorescence) are implemented in the time re‐ solved data acquisition used in our experiments. The detectors used for each mode are described  in [(§ 2.2.1.1) and (§2.2.1.2)]. 

 

Figure 2‐6: Schematic setup for fluorescence (right) and transmission (left) measurement modes in a X‐ray absorp‐ tion experiment. The incident beam I0 is partially absorbed by the sample of the thickness d. The sample is set at an 

angle  45°    with  respect  to  the  incident  beam  to  increase  the  fluorescence  yield  IF    ,  while  this  geometry  has  no 

influence on the transmission IT  but the increase in path length z  through the sample.  

The  difference  between  the  fluorescence  and  transmission  detection  mode  is  visible  at  first  glance in the positioning of the detectors (Figure 2‐6). While the transmission detector is located  in the direct X‐ray beam, the total fluorescence is usually collected by a detector at the side of the  sample, usually at about 90° to the incident beam.  

Documento similar