Para realizar estos estudios se incluyeron dos metodologías microscópicas de evaluación totalmente distintas: a) Microscopía Confocal Laser de Barrido por Reflexión OLS4000 3D LEXT (Olympus, Japan) y b) Microscopía Electrónica de Barrido por Emisión de Campo FEG SEM con EDS (Zeiss Sigma, Germany).
a) Microscopía Confocal Laser de Barrido por Reflexión es una metodología no destructiva para el estudio de biomateriales opacos, rígidos, sólidos, consistentes, compactos, semiduros y blandos, sin tratamiento previo de la muestra y que utiliza fotones. Las muestras a visualizar no requieren de tratamiento previo por lo que representa una perspectiva muy atractiva de utilizar en materiales cuyo procesamiento afecta directamente el parámetro que se pretende analizar.
El confocal por reflexión emplea un laser de corta longitud de onda (405nm), que combinado con precisos movimientos motorizados de barrido del objetivo y de la eliminación mecánica de la luz proveniente de planos desenfocados, posibilita obtener imágenes de alta resolución con selección de la profundidad o espesor de la muestra; se puede utilizar también como perfilómetro óptico sin contacto y con elevada resolución.
La llave del CLSMR consiste en la posibilidad de adquirir en foco imágenes con selección de la profundidad dentro de la muestra y reconstruirlas en bidimensión o tridimensión. (Mas C et al 2013).
Un CLSMR permite ver la tipología del espesor de la muestra y de la interfaz del diente con el cemento ionomérico, bajo condiciones ambientales normales sin interrumpir la morfología interfácica. Esto es especialmente útil para el estudio de la interacción de los cementos de ionómero de vidrio con la superficie de la dentina, que es muy sensible a la deshidratación. (George L, Kandaswamy D 2015).
La visualización de muestras opacas se logra usando barrido fotónico de la superficie a través de la incidencia de un láser por reflexión. (Mas C et al,
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2013). El Laboratorio LAMARX de la Universidad Nacional de Córdoba cuenta con un Confocal Laser Microscopio por Reflexión OLS 3D LEXT4000 de Olympus, Japan, que fue utilizado en estas investigaciones.
La Microscopía Confocal Laser de Barrido por Reflexión, posibilita observar y cuantificar las muestras sin vacío, metalización u otro tratamiento por lo que las interfaces se encuentra intactas, sin distorsiones y los resultados son válidos.
b) Microscopía Electrónica de Barrido por Emisión de Campo FEG SEM con EDS, esta metodología necesita que las muestras sean cubiertas con un agente conductor del rayo electrónico a través de la metalización de su superficie con oro, oro-paladio, cobre o carbono dependiendo de lo que se pretende visualizar o evaluar.
Posteriormente la muestra es introducida en el microscopio y sometida a alto vacío (FEG SEM, 1 x 10-7 hasta 1 x 10-9), para su observación. Este vacío se logra mediante bombas iónicas para el cañón y con bombas de flujo molecular para la cámara donde están alojadas las muestras.
En el microscopio electrónico de barrido (SEM), el haz de electrones, atraviesa la columna llegando a la muestra y un generador de barrido es el responsable de producir el movimiento del haz en la muestra de un punto a otro. De la interacción entre los electrones incidentes con los átomos que componen la muestra se generan señales, las cuales pueden ser captadas con detectores específicos para cada una de ellas que las convierte en una información digital o que es proyectada en una pantalla.
En el volumen de excitación primaria, ocurren interacciones que generan señales tales como: electrones secundarios, electrones retrodifundidos, rayos x característicos, electrones Auger y catodoluminiscencia.
Así, los electrones secundarios, son emitidos desde la muestra como consecuencia de las ionizaciones surgidas de las interacciones inelásticas. Poseen baja energía (50ev) y brindan una imagen de la morfología superficial de la muestra.
Los electrones retrodifundidos, provienen de las interacciones elásticas y tienen alta energía similar a la del haz incidente, pudiendo interactuar con los átomos de la muestra para generar electrones secundarios y otros tipos de señales; estos electrones son empleados para obtener imágenes de contraste químico.
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Rayos X característicos, este tipo de señal se produce cuando un electrón de una órbita interna de un átomo es desalojado por un electrón del haz incidente y la vacancia es completada con un electrón de un orbital más externo. En este salto el exceso de energía es liberado en forma de radiación electromagnética o rayos X. (Newbury D et al 2003; Lozano Sorrivas V et al, 2014).
Si se utiliza en una investigación Microscopía Electrónica de Barrido, sin desecar previamente las muestras con punto crítico, la metalización de los especímenes y el alto vacío al que se exponen las muestras, deforman, fracturan y despegan las interfaces, haciendo que los resultados obtenidos no tengan valor alguno.
Para realizar estos estudios de interfaces se utilizó como elemento de evaluación la Microscopía Confocal Laser de Barrido por Reflexión o OLS4000 3D LEXT, Olympus, Japan, siendo registradas en micrómetros las interfaces en dentina nivel de la pared pulpar cavitaria, constatando la presencia de hiatos, desadaptaciones o interfaces abiertas por fracturas adhesivas y/o cohesivas, como así también el sellado de los túbulos dentinarios.
Realizados todos estos procedimientos y cuantificaciones, los valores obtenidos fueron sometidos a análisis de varianza ANOVA y a la prueba de múltiple comparación de Bonferroni-Levene. Mediante este análisis se reemplaza a los tests múltiples t, por un solo test F, que se realizó usando el procesador estadístico Origin 7.1 (Softonic, England). (Figuras 31, 32, 33).
Con la aplicación de estas tecnologías se pudieron determinar los siguientes resultados:
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RESULTADOS
VALORES ESTADÍSTICOS DE LAS INTERFACES DE ADAPTACIÓN A DENTINA DE LOS CEMENTOS DE IONÓMERO DE VIDRIO CONVENCIONALES, DE ALTA VISCOSIDAD Y MODIFICADOS CON RESINAS