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Estudio de las propiedades de películas delgadas de paladio

Estudio de las propiedades de películas delgadas de paladio

´atomos es producida por un gradiente de concentraci´on. Para la electromigraci´on el desplazamiento de los ´atomos es causado por aplicar un campo el´ectrico mientras que en la termomigraci´on la fuerza de conduccin es un gradiente de temperatura sobre la muestra [10]. Sin embargo hay ciertos fen´omenos que a´un no se han podido entender completamente respecto a esta interacci´on entre el Paladio y el hidr´ogeno, como por ejemplo la interaccin H-H en la formaci´on de los sistemas hidruros y, el porqu´e de que algunas mol´eculas de H no son absorbidas por el Pd a´un estando a las mismas condi- ciones de absorci´on de las otras mol´eculas. De igual forma otro fen´omeno relacionado a esta interacci´on es el cambio relacionado a la estructura electr´onica del Paladio y al modificarse el enlace metal-metal por el enlace metal- hidr´ogeno, dado la relaci´on entre el llenado electr´onico y las propiedades del material.
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Estudio de las propiedades mecánicas de las películas delgadas de TaC<sub>x</sub>N<sub>y</sub>Study of the mechanical properties of TaC<sub>x</sub>N<sub>y</sub> thin films

Estudio de las propiedades mecánicas de las películas delgadas de TaC<sub>x</sub>N<sub>y</sub>Study of the mechanical properties of TaC<sub>x</sub>N<sub>y</sub> thin films

La perfilometría mecánica permite medir espesores de películas delgadas, determinar rugosidades y cualquier otra característica o detalle topográfico de interés en la superficie. El perfilómetro consta de dos partes, el cabezal de medida y el programa de control. El cabezal tiene una punta móvil que se pone en contacto con la muestra, generalmente se usan puntas de diamante o tungsteno con diversos radios desde 12.5 µm hasta 2.5 µm para una mayor resolución lateral. El cabezal baja lentamente la punta hasta alcanzar la superficie de la muestra y el portamuestras se desplaza horizontalmente, de forma que la punta recorre la superficie de la muestra aplicando sobre ella una fuerza constante del orden de miligramos. El movimiento vertical de la punta se mide eléctricamente y el programa registra esos movimientos,
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Estudio de las propiedades ópticas, eléctricas, estructurales y de luminiscencia de películas delgadas de ZnO para su potencial aplicación a dispositivos optoelectrónicos

Estudio de las propiedades ópticas, eléctricas, estructurales y de luminiscencia de películas delgadas de ZnO para su potencial aplicación a dispositivos optoelectrónicos

Una vez obtenida la morfología de las películas y las propiedades ópticas, se procedió a conocer el espesor de dichas películas, lo cual se realizó mediante perfilometría. En la figura 21 se muestran las graficas resultantes de esta medición, donde lo primero que se nota es que son muy irregulares. Esto se le puede atribuir a la rugosidad de las películas, como se puede ver en las imágenes de SEM. Al ser demasiado granuladas, esto provoca que la aguja salte demasiado, por lo cual se tuvo que buscar un promedio para encontrar el espesor de las películas. El espesor obtenido para películas de 1 depósito fue de 0.163µm y, para las películas de 2 depósitos, un espesor de 0.353µm. Esto indica que tenemos películas muy delgadas, lo cual era lo buscado en este trabajo. Ya con estos datos y relacionándolos con los resultados de las mediciones ópticas podemos encontrar una relación entre la brecha, la transparencia de las películas y el espesor. Conforme aumentamos el espesor de las películas, disminuimos su transparencia y, por ende, aumentamos el valor de su brecha, como se puede ver en la tabla 3. También se puede notar que la relación entre el primer depósito y el segundo no es exactamente el doble como sería esperado, esto se le puede atribuir que, al realizar el primer depósito sobre el sustrato de vidrio, el ZnO no tenía una base, que le permitiera adherirse con mayor facilidad al sustrato, mientras que al realizar el segundo depósito y al contar con una base dónde adherirse, se logra una mayor cantidad de material depositado, por lo que esa segunda capa tiene un espesor diferente a la primera.
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Estudio de la síntesis, caracterización microestructural, propiedades ópticas y fotocatalíticas de películas delgadas de óxidos metálicos

Estudio de la síntesis, caracterización microestructural, propiedades ópticas y fotocatalíticas de películas delgadas de óxidos metálicos

Observando estas desventajas, existen grupos de investigación que están tratando de mejorar las propiedades fotocatalíticas de óxidos metálicos modificando su estructura electrónica, impurificándolos con iones de metales de transición (V, Ni, Cu, Fe, Mn, Co) [12], iones no metálicos (B), u otros elementos (Pr, Ho, Cd,) [12, 23, 34- 38]. El Fe 3+ , es un buen candidato para probar este cambio [39]. En la literatura se puede encontrar que la mezcla de los óxidos de titanio y hierro ha generado un corrimiento de la absorción hacia zonas de menor energía; asimismo se ha reportado que el TiO 2 dopado con estaño genera también una reducción del ancho de banda
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Estudio de los parámetros de crecimiento sobre las propiedades de recubrimientos Ag-DLC y Cr-DLC depositados por Magnetron Sputtering

Estudio de los parámetros de crecimiento sobre las propiedades de recubrimientos Ag-DLC y Cr-DLC depositados por Magnetron Sputtering

Diseñar y construir equipos que permitan avanzar en la producción y estudio de películas delgadas se torna una exigencia básica en todo laboratorio de investigación en nuevos materiales. Nuestra primera tarea fue diseñar, construir y poner en operación un magnetron para blancos de 2 “de diámetro el cual sería instalado en la cámara de deposición del sistema de sputtering presente en el “Laboratorio de Sputtering” de la Facultad de Ciencias de la UNI. Blancos de plata (Ag) y cromo (Cr) de 2” de diámetro y 99.99% de pureza fueron adquiridos para la deposición de los recubrimientos de Ag-DLC y Cr-DLC. La figura 5.2 muestra un diseño generado por AutoCad de las partes básicas de un magnetron para blancos de 2” de diámetro. Para el diseño del magnetron se debe establecer una idea general de su capacidad y forma el cual está definido por el tamaño del blanco (blanco de 2” de diámetro) y por las dimensiones de la cámara de sputtering. El campo magnético es generado por un arreglo de imanes permanentes de neodimio colocados sobre la base de cobre tal como se observa en la figura 5.2. Una característica importante en el proceso de sputtering es que un alto porcentaje de la energía suministrada al sistema se convierte en calor sobre el magnetron. Con el fin de evitar perdida en la magnetización de los imanes, se hace necesario refrigerar el magnetron a través de un flujo de agua fría que circulara por su interior tal como se observa en la figura 5.2. La parte superior del magnetron (cátodo) es aislado del exterior (ánodo) por un teflón colocado entre ellos.
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Síntesis y caracterización de películas delgadas semiconductoras

Síntesis y caracterización de películas delgadas semiconductoras

dado el potencial de aplicaciones del AlN (ya sea puro u oxidado), aunado a que el proceso de oxidación del AlN policristalino es un mecanismo que aún no se comprende del todo, sobretodo en la modificación de las propiedades de la película, es importante realizar un estudio detallado que involucre tanto la síntesis de este tipo de sistemas, como el análisis de sus propiedades utilizando técnicas experimentales y cálculos teóricos. para la fabricación de las películas de AlN existen varias técnicas y/o procedimientos disponibles, entre algunas de ellas se encuentran el depósito por vapor químico (cVd: chemical Vapor deposition)[11-13], epitaxia de haces moleculares (mBe: molecular Beam epitaxy) [14,15], depósito asistido por haz de iones
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Obtención de películas delgadas de dióxido de titanio sobre superficies vítreas para generar propiedades autolimpiables

Obtención de películas delgadas de dióxido de titanio sobre superficies vítreas para generar propiedades autolimpiables

Como se observa en la Figura 3.4, se obtiene menor tamaño de partícula al utilizar el método 1 de síntesis, los valores del diámetro efectivo de partícula obtenidos fueron iguales a 6,8; 49,2; 4,7 y 4,3 nm, mientras que, los diámetros efectivos obtenidos por el método 2 de síntesis fueron iguales a 160,5; 89,8; 86,9 y 194,2 nm. Los valores de tamaño de partícula obtenidos por el método 1 en la Figura 3.4 son menores a comparación con los mostrados en la Figura 3.3 para el mismo método. El valor de la polidispersidad mostrado en la Tabla 3.1 para el método 1 aumenta en comparación al valor mostrado en la ¡Error! No se encuentra el origen de la referencia. para el mismo método, esto podría deberse a que a medida que disminuye el tamaño de partícula el área superficial es mayor por lo que las fuerzas de Van der Waal’s aumentan y provocan el incremento en el grado de aglomeración de las partículas (Othman, Rashid, Mohd, y Abdullah, 2012, p. 1). Un menor tamaño de partícula se obtiene tanto en la Figura 3.3 como en la Figura 3.4 al utilizar el método 1 de síntesis. Esto puede deberse a que éste método de síntesis utiliza etanol como reactivo y de acuerdo al estudio realizado por Herrera, Cadena y Lascano (2012), el etanol mejora la conformación de la estructura del
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Estudio de los mecanismos de conducción eléctrica en películas delgadas de PVB

Estudio de los mecanismos de conducción eléctrica en películas delgadas de PVB

El polivinil butiral (PVB) es un polímero que debido a sus propiedades reológicas, ópticas y de adherencia, se utiliza como elemento clave en la fabricación de vidrio laminado. Sin embargo, sus propiedades eléctricas también lo posicionan como un candidato importante para aplicaciones en las áreas de la ingeniería eléctrica, electrónica y/o mecatrónica. El carácter covalente y macromolecular de la estructura del PVB, le confiere una movilidad restringida a sus portadores de carga eléctrica. En este trabajo, a través de mediciones experimentales de I(t) a temperatura y voltaje constantes, se caracterizaron los mecanismos de conducción eléctrica presentes en una película de PVB, para lo cual se describieron y utilizaron los modelos físicos necesarios pertinentes, que describen el movimiento de los portadores de carga eléctrica en la matriz polimérica. Estos resultados, son fundamentales para la optimización de la utilización del PVB como “electret”, material dieléctrico dotado de una carga eléctrica o momento dipolar “cuasi” permanente.
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Estudio de películas delgadas de SiOx fabricadas mediante la técnica de evaporación térmica

Estudio de películas delgadas de SiOx fabricadas mediante la técnica de evaporación térmica

El objetivo de los procesos de deposición es realizar la transferencia de átomos desde una fuente a un sustrato, donde desde un punto atomístico, se procede a la formación y crecimiento de la película. En la evaporación se remueven los átomos de la fuente debido a un proceso térmico. Faraday experimentó con la explosión de alambres de metal como fusibles en un ambiente inerte, produciendo películas delgadas evaporadas (Ohring M., 1992). Los avances en las tecnologías de sistemas de vacío y la fabricación de fuentes de calor por efecto Joule adecuadas, primeramente hechas de platino y después de alambres de tungsteno, estimuló el progreso de la tecnología de evaporación. El interés científico en el fenómeno de la evaporación y las propiedades de las películas delgadas de metal fue prontamente seguido por la producción industrial de elementos ópticos tales como espejos, divisores de haces, y después, recubrimientos antireflejantes. Altas tasas de deposición, un mejor vacío (por lo tanto, un ambiente más puro para el crecimiento y formación de la película) y una aplicabilidad general para toda clase de materiales son unas de las razones por las cuales se ha despertado un gran interés en los métodos de evaporación.
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Caracterización de propiedades mecánicas de películas delgadas de nitruro de tántalo sintetizadas por ablación láser

Caracterización de propiedades mecánicas de películas delgadas de nitruro de tántalo sintetizadas por ablación láser

Una de las caracterizaciones más utilizadas en el estudio de nitruros de tántalo es la de tipo estructural, entre los trabajos reportados en la literatura relacionados con esta caracterización se encuentra el de Kawasaki et al. (2001), quienes utilizaron la técnica de difracción de rayos X por ángulo rasante para determinar su estructura cristalina. Este reporte sugiere que en el método de síntesis de PLD, la fase de reacción en la pluma del plasma y la superficie del sustrato son importantes para la preparación de películas cristalinas de TaN. En el estudio reportado por Tsukimoto et al. (2004) se realizó la caracterización estructural mediante la técnica de la difracción de rayos X (XRD, por sus siglas en inglés de X-Ray Diffraction) y se muestra que las películas amorfas de TaN no presentan necesariamente buenas propiedades como barrera de difusión comparada con las películas cristalinas de TaN. Las muestras producidas por Wang et al. (2003) mostraron un crecimiento en fase cúbica para la fase TaN. Este reporte indica que la superred TaN/TiN presenta mejores resultados como barrera de difusión que el TaN o TiN por separado. De igual manera, Hsieh et al. (2006) estudiaron películas delgadas de TaN-Cu encontrando la fase TaN, donde comprobaron que la adición de Cu puede ser la causa de la formación de estructuras nanocristalinas de TaN o amorfas y que el recocido no afecta a la estructura de TaN encontrada, ya que, antes del recocido, los átomos de Cu son solamente atrapados, mientras que, después del recocido, algunos se convierten en partículas finas de Cu. Por otro lado, Li et al. (2007) mostraron la presencia de una estructura hexagonal de TaN con plano preferencial (300), cuando las películas de TaN son crecidas por el método de depósito por arco aplicándole un voltaje negativo al sustrato de 200 V, mientras que, si se le aplica un voltaje negativo de 50 V al sustrato, las películas resultan amorfas. En el trabajo de Lee et al. (2007) las películas de nitruro de tántalo depositadas presentaron la fase hexagonal de Ta 2 N y una mezcla de fases hexagonal de Ta 2 N y cúbica de TaN. Los
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Crecimiento direccional de películas delgadas de AlN de propiedades compatibles con heteroestructuras semiconductoras

Crecimiento direccional de películas delgadas de AlN de propiedades compatibles con heteroestructuras semiconductoras

Hoy en día, la ciencia de superficies y películas del- gadas ha alcanzado un alto grado de especialización. La combinación de las propiedades de diversos ma- teriales crecidos en película delgada ha permitido el desarrollo de una gran variedad de dispositivos se- miconductores. En este trabajo nos enfocaremos en el nitruro de aluminio (AlN), material perteneciente al grupo de los nitruros, denominados compuestos III-V. Estos materiales tienen un gran potencial en aplicaciones tecnológicas, como dispositivos funcio- nales, en campos como la fotónica (dispositivos optoelectrónicos), tribología (recubrimientos resis- tentes al desgaste y a sustancias hostiles) y micro- electrónica (heteroestructuras semiconductoras y electrodos transparentes). 1,2
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Síntesis de películas delgadas por abrasion iónica

Síntesis de películas delgadas por abrasion iónica

Podemos observar de la tabla IX, como la carga de penetración va aumentando, la dureza de la superficie de la película multicapa va disminuyendo, esto es debido a las altas velocidades de oxidación de los metales utilizados para la síntesis de esta película se crea en la parte superior de la película una capa de óxido el cual aumenta considerablemente la dureza del material ya que al estar depositada en sustrato de vidrio es muy común que la superficie de la película entre en contacto con la atmosfera húmeda, sin embargo, conforme el indentador penetra más profundo en la película vamos a tener mayor pureza en la aleación por lo cual va a ver menor cantidad de contaminantes a mayor profundidad lo cual va hacer que la aleación se comporte en esa zona más blanda. Similar a lo mismo que ocurría en las películas sintetizadas a partir de la aleación Ni-Ti.
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Val Morrison Paul Bennett

Val Morrison Paul Bennett

Los seres humanos son básicamente seres sociales. Nuestra conducta es el resultado de muchas influencias: la cultura y el entorno generales en los que hemos nacido; la cultura cotidiana en la que vivimos y trabajamos; los grupos, subgrupos e individuos con los que nos relacionamos; y nuestras propias emociones, creencias, valores y actitudes personales, influidas to- das ellas por todos estos factores más generales. Aprendemos de nuestra propia experiencia positiva y negativa, pero también aprendemos «vicaria- mente» a través de quedar expuestos a, y observar, las conductas y expe- riencias de otros. La conducta de los que nos rodean crea una «norma so- cial» percibida, que sugiere una aprobación implícita (o explícita) de determinada conducta. Por ejemplo, un estudio longitudinal a cuatro años de casi 10.000 alumnos de secundaria estadounidenses encontró que el 37 por ciento de los que no fumaban en el instituto había empezado a fumar en el seguimiento realizado en la facultad; el 25 por ciento de los iniciales fumadores que probaban a ver qué era eso había aumentado su consumo de tabaco; y el resto de estudiantes había permanecido en la misma situa- ción [o bien no fumaba, o bien seguían probando de vez en cuando (nin- guno durante el último mes), o bien eran fumadores o antiguos fumadores] (Choi, Harris, Okuyemi et al., 2003). Se encontraron claras diferencias en cuanto a los factores que explicaban el inicio del hábito de fumar desde el no fumar (es decir, alumnos blancos, rebeldes, a los que no les gustaba el colegio) y la progresión de fumar de formar experimental (de forma irregular, social, a corto plazo) a ser un fumador habitual. Los que mos- traban progresión en su conducta de fumar percibían una aprobación de sus compañeros por fumar y percibieron ese probar de vez en cuando co- mo algo seguro. Además, la aprobación paterna percibida era una influen- cia más importante para empezar a fumar que para progresar.
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ESTUDIO EPIDEMIÓLOGICO DE LAS VÍCTIMAS DE ACCIDENTES DE TRÁFICO EN EL ÁREA DE SALUD DE ALCOY EN 1994

ESTUDIO EPIDEMIÓLOGICO DE LAS VÍCTIMAS DE ACCIDENTES DE TRÁFICO EN EL ÁREA DE SALUD DE ALCOY EN 1994

Se ha realizado un estudio observacional, de tipo transversal, a partir de la recogida de datos de todas las víctimas de accidentes de tráfico atendidas por el Servicio de Urgencias Hospitalario (S.U.H.) desde el 1 de enero a 31 de diciembre de 1994. Para ello se cumplimentaron unos protocolos anónimos con los datos epidemiológicos habituales mediante los cuales se pretendía obtener datos sobre:

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Degradación de las propiedades ópticas de películas semiconductoras amorfas de nitruro de silicio a-SiN producidas por pulverización catódica de radiofrecuencia

Degradación de las propiedades ópticas de películas semiconductoras amorfas de nitruro de silicio a-SiN producidas por pulverización catódica de radiofrecuencia

Para comprender las propiedades de los semiconductores amorfos es importante hablar primero de las estructuras cristalinas. Una estructura cristalina es un arreglo atómico, que tiene simetría de traslación a largo alcance. En contraste un material amorfo solo presenta orden a corto alcance. Larga distancia significa, que la dimensión de tres dimensiones es mucho más grande que la distancia entre los átomos. Orden corto alcance incluye pequeñas áreas en las que existe periodicidad. Mientras que en las estructuras amorfas, sólo pequeñas partes están ordenadas. Las propiedades de los materiales amorfos son diferentes en comparación con estructura cristalina. Las propiedades de un cristal son bien conocidas, no obstante las propiedades de un material amorfo son difíciles de caracterizar y cuantificar.
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Estudio del comportamiento humano ante la enfermedad

Estudio del comportamiento humano ante la enfermedad

Durante muchos años, el modelo biomédico, fundado en las mencionadas concepcio- nes dualistas, ha representado la tendencia a fundamentar el estudio de la enfermedad en la anatomía, la fisiología, la bioquímica, etcétera, como única forma de comprender, diagnosticar y tratar las enfermedades (Ballester, 1999). Por otra parte, la psiquiatría ha ocupado el espacio de lo mental y psíquico, estudiando las causas y contextos de enfer- medades específicas de ese ámbito. Sin embargo, la propia investigación, y sobre todo la realidad y los cambios sociales, han mostrado la insuficiencia de estos enfoques. La psi- quiatría pareció ser, hasta mediados del pasado siglo, la respuesta a la necesidad de estu- diar las patologías de la mente de manera complementaria pero separada. Desde enton- ces la psicología médica asumió el estudio de los factores psicológicos en los procesos de enfermedad, con el fin de establecer las relaciones entre ciertos aspectos de la perso- nalidad y el origen y desarrollo de procesos de enfermar y sanar. Este enfoque significó un claro y decidido avance, si bien insuficiente, para tratar tales procesos desde una perspectiva pluridimensional, integradora y sistémica. Es más, cabe suponer que los nuevos enfoques actuales que siguen un planteamiento sistémico han encontrado su via- bilidad y legitimidad científica y sanitaria en los análisis y estudios derivados de la psi- quiatría y la psicología médica, cuyas investigaciones han puesto de manifiesto la vincu- lación entre lo orgánico y biofísico con lo psíquico, primero; entre lo psíquico y la personalidad, las diferencias individuales, después; y, por último, entre lo psicológico y lo social y cultural.
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anódica muestra un proceso de reducción de las cadenas de polipirrol. En la zona catódica, en ambos casos se observó picos anchos, debidos a la oxidación de las películas. La naturaleza de los procesos electroquímicos que tienen lugar durante la oxidación/reducción de las películas de pirrol no ha sido aún determinado, aunque se puede interpretar con el modelo del polarón/bipolarón, según el cual la oxidación parcial de la cadena polimérica conduce a la formación de un polarón, es decir, una asociación de un electrón no localizado y una carga positiva. Al eliminar un segundo electrón (segunda oxidación) de la misma sección de cadena polimérica, puede formarse un segundo polarón independiente del ya existente, o puede ocurrir que se elimine el electrón deslocalizado para formar un dicatión o bipolarón. Durante el primer proceso de oxidación/reducción, que tiene lugar a más bajo potencial, el anión dopante se encuentra atrapado en la matriz polimérica, de modo que para mantener la electroneutralidad, el polímero intercambia cationes con el medio. En el segundo proceso de oxidación/reducción de la película, la matriz polimérica intercambia aniones con el medio y así mantiene su electroneutralidad9. El mecanismo propuesto se puede representar de la siguiente manera.
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Evaluación de las habilidades sociales: estructura factorial y otras propiedades psicométricas de cuatro medidas de autoinforme

Evaluación de las habilidades sociales: estructura factorial y otras propiedades psicométricas de cuatro medidas de autoinforme

Si nos centramos en las medidas de autoinforme que evalúan las HHSS, encontramos que la mayoría de los cuestionarios utilizados hoy día se desarrollaron en esos años. A pesar del tiempo transcurrido desde entonces, es poco frecuente hallar estudios que aborden las propiedades psicométricas de dichas medidas, por lo que la mayoría de las mismas se encuentran en un “limbo” estadístico. Incluso no existe, a diferencia de otras áreas, una medida de autoinforme que sea el patrón (gold standard) con la que comparar o validar otras medidas. Es posible que esta situación se deba, al menos en parte, a que muchos de los cuestionarios fueron desarrollados con objetivos clínicos (p. ej., para evaluar la eficacia del entrenamiento en asertividad o en HHSS) o como medida ad hoc para investigaciones concretas, pero sin pensar en una utilización posterior y más amplia.
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Fabricación y caracterización de la celda solar con estructura PbS/CdS depositada por el método de baño químico

Fabricación y caracterización de la celda solar con estructura PbS/CdS depositada por el método de baño químico

 Pirólisis por rocío: fue introducido por Chamberlin y Skarman en 1966 para crecer CdS en aplicaciones de celdas solares, desde entonces el proceso ha sido investigado y se ha usado con diversos materiales, puede ser desarrollado fácilmente y es adecuado para los substratos con formas irregulares o geometrías anómalas. Existen métodos de pirólisis por rocío que permiten la movilidad del atomizador en un plano X-Y permitiendo cubrir toda el área del substrato para crear un revestimiento uniforme y de alta calidad. El sustrato también puede ser sometido a diferentes temperaturas, hasta llegar alcanzar los 500 °C. Las propiedades de las películas dependen de la relación anión–catión, concentraciones de los reactivos, velocidad del rocío, flujos y tipo de gas, distancia boquilla-substrato, temperatura de substrato y atmósfera [24, 25].
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“Efecto de la concentración de Fe en la estructura y propiedades ópticas de las películas delgadas de ZnO crecidas por rociado pirolítico”

“Efecto de la concentración de Fe en la estructura y propiedades ópticas de las películas delgadas de ZnO crecidas por rociado pirolítico”

durante un tiempo de 10 minutos. La presión y el flujo de aire se fijaron en 2kPa y 9 L/min, respectivamente. Los patrones de difracción de rayos X muestran picos de difracción característicos de la estructura hexagonal wurtzita, con una tendencia de crecimiento preferencial en la dirección del eje c. El análisis de los esfuerzos residuales se realizó a partir de los datos de los difractogramas de rayos X. Se observó que los esfuerzos en el modelo uniaxial son compresivos (negativos) para todas las concentraciones de Fe, en el modelo biaxial todos los esfuerzos son tensiles con la tendencia a ser constantes. Los espectros de UV-vis revelaron fuerte absorbancia en la región UV para todas las películas de Zn 1-x Fe x O; pero mayor transmitancia óptica para concentraciones de Fe de 10 y 20%,
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