• No se han encontrado resultados

La técnica que se utilizó para el crecimiento de heteroestructuras de óxidos complejos,  sobre las cuales posteriormente se realizaría la nanoestructuración por vía descendente, fue la  pulverización  catódica  por  radio  frecuencia  (RF  sputtering).  El  crecimiento  de  las  capas  delgadas se realizó en uno de los equipos disponibles en el Institut de Ciéncia de Materiales de 

Barcelona (ICMAB‐CSIC), véase la figura A.2. Esta técnica constituye uno de los métodos físicos 

más  utilizados  debido,  principalmente,  a  su  capacidad  para  realizar  deposiciones  de  una  enorme  variedad  de  materiales  que  van  desde  metales  puros,  pasando  por  aleaciones  magnéticas  o  no  magnéticas,  hasta  materiales  complejos  como,  por  ejemplo,  los  óxidos  funcionales pertenecientes a las familias de las Perovskitas, manganitas, cobaltitas, etc. 

A.3.1 Pulverización catódica por radio frecuencia (RF-sputtering)

Esta  técnica  consiste  en  la  erosión  de  átomos  de  la  superficie  de  un  blanco  estequiométrico  con  algunos  milímetros  de  grosor. La  erosión  se  realiza  cuando  el  blanco  se  somete a los múltiples impactos de los átomos ionizados de un gas o mezcla de gases, el cual  es ionizado por medio de radiofrecuencia (13.56 MHz). Por ser un gas fácilmente ionizable, no  reactivo, poseer una masa atómica relativamente elevada y, de un costo moderado, el argón  es  el  gas  más  utilizado  para  realizar  la  erosión  del  blanco  en  ésta  técnica.  En  nuestro  caso,  cuando  la  capa  a  depositar  es  de  un  óxido  complejo,  debe  incorporarse  una  porción  de  oxigeno al gas de trabajo para conseguir la correcta oxigenación de la capa durante su proceso  de crecimiento. 

    

Figura A.2 fotografía de la cámara de pulverización catódica RF en el ICMAB‐CSIC (izquierda) y el interior  donde se observa el calefactor incandescente y el plasma generado por el magnetrón (derecha).  

Una  vez  que  se  ha  alcanzado  la  presión  de  trabajo  deseada  se  enciende  la  fuente  de  radiofrecuencia, con lo cual se enciende el plasma y se genera un potencial negativo sobre la  superficie  del  blanco  que  atrae  a  los  átomos  de  argón  ionizado.  Adicionalmente,  como  en  nuestro  caso,  se  puede  incrementar  la  población  de  iones  de  argón  sobre  el  blanco  y,  en  consecuencia,  la  velocidad  de  crecimiento  de  las  capas,    incluyendo  un  sistema  de  imanes  concéntricos en el montaje experimental. A este último tipo de configuración se le conoce con 

el nombre de magnetrón y, tal como se muestra en la figura A.4, consiste en proporcionar un  campo  magnético  alrededor  del  blanco  con  una  orientación  determinada  que,  junto  con  la  orientación  del  campo  eléctrico,  consiguen  confinar  a  los  iones  de  argón  en  una  trayectoria  cerrada en las inmediaciones de la superficie del blanco.  En la cámara para el crecimiento de capas delgadas del ICMAB, figura A.5, la lectura y  control de todos los parámetros asociados al proceso de crecimiento se realiza a través de una  aplicación diseñada en lenguaje LabVIEW.  A continuación se especificaran los pasos a realizar a la hora de crecer una capa delgada:   Se coloca el sustrato dentro de la ranura hecha a medida (5x5mm de lado y 0.5mm de 

alto)  de  uno  de  los  calefactores  de  la  cámara  de  vacío.  La  finalidad  de  la  ranura  que  presenta el calefactor es la de maximizar la superficie de contacto entre el calefactor y  el sustrato, con lo cual, se minimiza el gradiente térmico del sustrato durante todo el  proceso de crecimiento de la capa.  

 Las  condiciones  de  vacío  para  alcanzar  un  vacío  base  y  una  presión  de  trabajo  se  consiguen  mediante  el  uso  de  una  bomba  rotatoria  a  paletas  y  una  bomba  turbomolecular. Para alcanzar un vacío base con una presión alrededor de 2x10‐6 torr  primero  se  realiza  un  vacío  primario  de  10‐2  Torr  con  la  bomba  rotatoria  y  en  este  punto se pone en marcha la bomba turbomolecular a su máxima velocidad. Este paso  es  de  gran  importancia  ya  que  asegura  un  ambiente  limpio  de  impurezas  durante  el  proceso de crecimiento. Las impurezas que se retiran de la cámara de crecimiento con  el  vacío  base  y  que  pueden  deteriorar  la  calidad  de  la  capa  pueden  ser  de  distintas  naturalezas:  vapor  de  agua,  dióxido  de  carbono,  o  presencia  de  residuos  orgánicos  presentes  en  la  atmósfera.  Una  vez  alcanzado  el  vacío  base  se  mantiene  por  un  período  de  30  minutos  para  reducir  aún  más  la  cantidad  de  residuos  que  pueden  deteriorar la calidad de las capas a crecer. 

 Ahora se buscan las condiciones de trabajo, o en otras palabras, las condiciones de la  deposición: temperatura, proporción de gases y presión dentro de la cámara. Primero  se  incrementa  la  temperatura  del  sustrato  hasta  que  alcance  la  temperatura  de  deposición  (800  °C)  y  en  este  punto  se  fijan  las  revoluciones  de  la  bomba  turbomolecular a 9000rpm y se introduce la cantidad de mezcla de gases necesaria (Ar  80%  y  O2  20%)  que  permita  mantener  estable  la  presión  de  trabajo  (330  mtorr  en 

nuestro caso). 

 Antes de comenzar el crecimiento se realiza una limpieza del blanco (pre‐sputtering)  para retirar las posibles impurezas que puedan haberse adsorbido sobre su superficie.  La  limpieza  se  realiza  durante  30  minutos  y  se  utiliza  la  misma  potencia  que  será  utilizada para el crecimiento de la capa (15 W). 

 Al concluir la limpieza del blanco se pasa a posicionar el sustrato debajo del magnetrón  y  en  este  momento  se  comienza  a  contabilizar  el  tiempo  de  crecimiento,  que  dependerá  del  espesor  de  capa  deseado  ya  que,  mediante  calibraciones  previas  se  conoce la relación entre el espesor de la capa y el tiempo empleado en el crecimiento,  véase el apartado A.4.1.3 

 Una  vez  cumplido  el  tiempo  de  crecimiento  que  ofrecerá  el  espesor  deseado  se  detienen ambas bombas y se procede a llenar la cámara de oxígeno hasta que alcance  los 350 torr de presión y, en estas condiciones, se realiza un recocido in situ durante  una  hora  a  900°C  para  mejorar  las  propiedades  cristalográficas  y  magnéticas  de  las  capas crecidas. 

 Finalmente,  para  extraer  la  muestra  de  la  cámara  de  vacío  se  baja  lentamente  la  temperatura  de  la  muestra  hasta  alcanzar  la  temperatura  ambiente  y  se  llena  la 

cámara con gas nitrógeno hasta equilibrar las presiones dentro y fuera de la cámara,  con lo cual, se podrá abrir la cámara y acceder a la muestra.   En algunas muestras, se mencionará en cada caso, es posible que se necesite realizar  algún recocido ex situ a presión atmosférica y en presencia de aire.  Ventajas e inconvenientes de la pulverización catódica (en particular de la RF)  Ventajas:   Buena adherencia de la capa final al sustrato   Crecimiento átomo a átomo   Posibilidad de utilizar blancos aislantes   Posibilidad de crecer materiales sobre grandes superficies   Posibilidad de crecer materiales complejos con buena estequimetría   Obtención de capas delgadas de buena calidad  Inconvenientes:   Bajo ritmo de crecimiento 

 Erosión  no  homogénea  sobre  el  blanco  ya  que  se  realiza  con  forma  de  anillo  concéntrico 

 Necesidad de trabajar a altas presiones